通过对约500多份型式试验报告、原始记录及试验波形，并且跟踪一台合成试验用辅助户外高压真空断路器​单极一年多的开断情况，相关型式试验报告的分析结论：
查阅500余份真空断路器及开关柜的型式试验报告及原始记录后发现，共有75台次真空断路器试品在短路开断试验过程中出现问题。分析发现：发生问题试品的开断次数区段有这样一个规律：试验产品随着开断次数的增加，试验失败率反而在大大减少。其中，发生问题的开断次数区间在1～10次中的占65.3%，11～20次中的占24.0%，21～30次中的占10.7%，30次以上的为0%。
规律：试验产品随着开断次数的增加，试验失败率反而在大大减少。其中，发生问题的开断次数区间在1～10次中的占65.3%，11～20次中的占24.0%，21～30次中的占10.7%，30次以上的为0%。 　
户外高压真空断路器开断失败的原因很多，主要有：

①开关装配调试不当，如灭弧室安装偏心，紧固螺丝松动，反弹或弹跳过大；

②机构可靠性差，行程特性曲线不理想；

③灭弧室内部缺陷，如真空度不合格，老炼不充分等。

从相关的试验记录数据可以分析出：开断试验中大部分问题出现在电寿命试验开始阶段，一旦度过这段过程，熄弧失败的几率就开始减小。失败的原因尽管不排除灭弧室本身问题，但现在真空灭弧室的生产工艺和制造水平已相当成熟，合格率相当高，而且出厂时还要经过数次高电压、小电流的充分老炼，多道真空度检测工序，出现问题的概率应该说很小。其实就算是由于灭弧室自身的缺陷造成开断失败（如熔焊、未灭弧），包括触头材料内部大量排气造成真空度下降，或者触头材料熔化后产生的金属微粒飞溅使灭弧性能下降等原因，也应该是随着开断次数的增多，失败几率逐渐增加。可事实恰好相反。开断30次以上的试品都通过了电寿命试验，甚至是同一台产品连续成功做了两轮电寿命试验，即同时满足相关要求的274次E2级延长的电寿命试验和相关要求的满容量开断30次的电寿命试验。 　
由此可见：
短路开断失败的关键因素并不在灭弧室本身，而在于断路器设计存在缺陷，或者装配调试过程中的不认真及人为疏忽等方面。即一台设计合理、装配合格且调试良好的开关，只要选配合格的真空灭弧室，理论上都能够通过几十甚至上百次的额定短路电流开断。
验证性试验及结果： 　
影响电寿命的主要因素是电磨损，包括灭弧室、灭弧介质、触头三方面，通常认为起决定作用的是触头的磨损，其取决于电弧能量即开断电流和燃弧时间。
大量的试验结果表明：
虽然燃弧时间的长短对单次开断是随机的，其平均燃弧时间则是趋近的，即可忽略首开相、后开相的影响，完全用开断电流作为参考量。 　根据真空电弧理论分析可知，真空电弧电压是一个接近的数值，不受外施电压大小的影响，只需一定大小的外施电压就可维持真空电弧燃烧，所以只要短路电流满足要求，可以采取降低电压的方法进行电寿命开断试验，其触头磨损程度应该能够等效全电压的情况。依据此原理，合成试验所用辅助断路器由于每次均参与开断短路电流，也承受较高的恢复电压，故仍能满足对触头的磨损要求。所以，通过对一整年站内合成试验用辅助断路器开断实验的记录与分析，来考核验证真空断路器的电寿命极限开断次数能力。
共进行40.5kV、31.5kA等级各种产品试验约20台，该极灭弧室总共开断31.5kA电流211次，累计开断电流6600kA，累计燃弧时间约为1900ms。7月27日，将此极灭弧室作为试品进行了40.5kV、31.5kA合成开断试验，一共进行了3次有效开断，其中，一次对称电流开断，燃弧时间为8.5ms；一次大半波中燃弧开断，燃弧时间为10ms；一次大半波长燃弧开断试验，燃弧时间为12ms(T100a可以说是短路开断试验里最严酷的项目之一)，3次开断均成功，图3、图4为开断试验波形。随后又对该灭弧室进行了绝缘试验，其中工频耐压达到100kV，高于标准要求（95kV）,冲击耐受电压水平略低于标准要求（185kV），达到182kV。这充分证实了此只灭弧室仍然具备很强的灭弧能力，能够满足继续使用的条件[12]。解剖后发现：尽管触头面开槽大部分已熔化粘连，局部已产生凹坑，但触头表面烧损最严重处只有约1.4mm，且触头燃弧覆盖面比较均匀，且金属蒸汽对屏蔽筒的喷溅也比较轻微，说明纵磁场结构电极控弧能力很强。触头烧损情况见图4。
    当然，并不是说每个批次生产的真空灭弧室都能达到200次以上的电寿命能力，其差异还是存在的，但是，根据在试验站的多年工作经验，辅助断路器大多能够完成150次以上的额定短路电流开断，因此，该只灭弧室并不属于个例，应该是带有普遍性的。 
    通过上述验证性试验证明，户外高压真空断路器电寿命能力比现有提供的相关数据要大，具体大多少，由于相关试验的费用比较高的问题，并没有相应的确切数值。

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